IEEE (Hrsg.):
2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering : MetroXRAINE 2023, Proceedings
International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE 2023), 25.10.-27.10.2023, Mailand
IEEE, 2023
2023Tagungsband
08 Ingenieurwissenschaften » 765 Informatik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
2023 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering : MetroXRAINE 2023, Proceedings
Konferenz
International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE 2023), 25.10.-27.10.2023, Mailand
Herausgeber(in):
IEEE
Verlag:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2023
DOI
10.1109/MetroXRAINE58569.2023
ISBN
979-8-3503-0080-2
ISBN
979-8-3503-0079-6
ISBN
979-8-3503-0081-9
WWW URL:
https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/10405419/proceeding
Sprache des Textes:
Englisch
Ressourcentyp:
Text